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      1. 透射電鏡(TEM)實驗服務

        使用說明書

        僅供體外研究使用,不用于臨床診斷!

        第1版(2016年04月修訂)

        透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構,就必須選擇波長更短的光源,以提高顯微鏡的分辨率,目前TEM的分辨力可達0.2nm。

        透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50-100nm,所以透射電鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。

        服務內容

        可應用于細胞樣本、微生物樣本以及組織塊樣本等結構形態的觀察

        服務流程

        1.將需檢測樣本運輸到我公司或者由我們公司提供樣本;

        2.根據客戶要求對需檢測樣本進行透射電子顯微鏡實驗,提供客戶影像圖片。

        設備介紹

        JEM-1400 120kV透射電子顯微鏡

        客戶提供的材料

        1、固定好的檢測樣本或新鮮組織樣本/2、確定取材部位,盡量減小牽拉、挫傷與擠壓等機械損傷,組織體積一般不超過1mm×1mm×1mm ,迅速投入電鏡固定液4℃固定2-4h。


        • Transmission Electron Microscopy (TEM) Experiment Service
        圖片展示
        • Certificate
        通過ISO 9001、ISO 13485質量體系認證
        留言咨詢
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